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EM5030近场探头 |
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EM5030近场探头详细信息: |
“EM5030近场探头”参数说明
“EM5030近场探头”详细介绍
EM5030近场探头概述:EM5030是一款主要用于查找干扰源,判定干扰产生原因的高性价比近场探头。可用来检测器件表面的磁场方向以及强度;检测模块附近的磁场环境。为了降低干扰,寻找到真正的干扰源或者是其传播的途径是非常有必要的,通过近场探头测量可以很方便地实现定位功能。通过配合EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系统测试灵敏度。技术指标:EM磁场探头可检查10cm范围内的磁场;频率范围:30M-3G分辨率:25mmEM磁场探头可检查3cm范围内的磁场;频率范围:30M-3G分辨率:10mmEM磁场探头主要用于线缆电磁泄露检查;频率范围:30M-3G分辨率:5mmEM磁场探头主要用于PCB布线电磁场测试;频率范围:30M-3G分辨率:2mm订货信息:EM5030近场探头
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