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近场探头EM5030 |
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近场探头EM5030详细信息: |
“近场探头EM5030”参数说明
“近场探头EM5030”详细介绍
EM5030近场探头概述:EM5030是一款主要用于查找干扰源,判定干扰产生原因的高性价比近场探头。可用来检测器件表面的磁场方向以及强度;检测模块附近的磁场环境。为了降低干扰,寻找到真正的干扰源或者是其传播的途径是非常有必要的,通过近场探头测量可以很方便地实现定位功能。通过配合EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系统测试灵敏度。技术参数:型号说明特性EM5030-1磁场近场探头,可检查10cm范围内的磁场。主要用于机箱泄漏测试。频率范围:30MHzto3GHz分辨率:25mm左右EM5030-2磁场近场探头,可检查3cm范围内的磁场。频率范围:30MHzto3GHz分辨率:10mm左右EM5030-3磁场近场探头,主要用于线缆电磁泄漏测试。频率范围:30MHzto2GHz分辨率:5mm左右EM5030-4磁场近场探头,可检测垂直方向发射的电磁场。主要用于PCB布线产生的电磁场测试。频率范围:30MHzto3GHz分辨率:2mm左右
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